iEDX-150uT是一种X射线荧光分析仪器。将测量用的物体(如:电路板)放在台上并开始分析,则分析第二荧光X射线是否被分析,以及所含元素的种类,并将其开发制成iEDX-150uT,用于第一X射线的物体调查和生成。为适应RoHS元素分析的需要,对其进行了早期的定性和定量分析, iEDX-150uT能准确完成。
1.高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)
Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析
3.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
4.励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如:Sn-Pb/Cu ]
5.Multi-Ray. WINDOWS7软件操作系统
6.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
7.自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
组成 |
名称 |
参数 |
备注 |
X射线源 |
光管电压 |
0 - 50kVp |
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光管电流 |
0 - 1mA |
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靶材 |
Mo(钼) |
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光斑 |
65-90um |
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射线窗口 |
Be(铍) |
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X射线探测器 |
探测器类型 |
SDD探测器 |
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Cooling |
Peltier |
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分辨率 |
125eV @5.9keV |
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探测范围 |
70mm2 |
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探测器窗口 |
Be 0.5mil(12.5um) |
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滤片 |
材料 |
Al(铝) |
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准直器 |
直径 |
35um |
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材料 |
/ |
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摄像机 |
像素 |
2 million |
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连接方式 |
USB |
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光学成像 |
实际尺寸软件调节 |
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机体 |
尺寸 |
530 X780 X530 |
宽 x长 x高 |
重量 |
108kg(NET) |
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控制系统 |
电脑 |
DELL |
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接口 |
USB接口 |
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软件 |
操作系统 |
MultiRay |
自主制造 |
分析 |
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电源 |
电压范围 |
195 – 265VAC |
自由电压 |
市电 |
600W (800W max) |
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产品应用:
毛细管微焦点镀层测厚仪 iEDX-150μT,具备极高的性价比。产品广泛应用于特殊镀层厚度检测:化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等;汽车零部件、线路板(PCB)镀层厚度检测,如:电容;单层、多层、合金镀层检测;还可用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与电子制造等行业,对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着极高的经济价值。0
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